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Es wird ein Verfahren vorgestellt, das eine rechnergestützte Testerstellung zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltwerken ermöglicht. Die Testerstellung erfolgt algorithmisch und schaltungsorientiert nach dem Äquivalenzklassenprinzip. Dabei ist der Ausgangszustand des Schaltwerks, das synchron oder asynchron arbeiten darf, beliebig. Es wird durch das Verfahren eine optimale Lokalisierung ohne Simulation gewährleistet. Durch Bereitstellen einmalig berechneter optimierter Testsätze für alte Funktionselemente in einer Datei wird eine wesentliche Zeitersparnis erreicht. Das Programmsystem SEQUI ist auf einer Großrechenanlage vom Typ CYBER 175 implementiert.

Automatische Testerstellung zur Fehlerdiagnose in Schaltwerken / Computer calculated test-sets for fault diagnosis in sequential logic boards