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Es wird ein Verfahren für korrtbinatorische Schaltungen vor^esch/agen, bei dem zunächst die nicht unterscheidharen 0und I-Fehler an den Anschlüssen der Gatter ermittelt werden. Diese Fehler bilden sog. Äquiialenzklassen. Es werden nur statische Einzelfehler betrachtet. Von den Äquivalenzklassen ausgehend werden mit Hilfe der Partiellen Booleschen Differenzen die Tests erstellt. Man erhält einen reduzierten Testsatz, der die Erkennung und Lokalisierung aller unterscheidbaren Fehler gestattet. Das Aufstellen und Kürzen der vollständigen Testüberdeckungstabelle wird dadurch überflüssig.

it. information technology/information technology

Minimal-Testsätze zur Erkennung und zur Lokalisierung von Einzelfehlern in Schaltnetzen / Minimum test sets to detect and locate single faults in combinational circuits