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Für Schaltnetze ohne Rückkopplungen und Speicherglieder ist die Methode der Booleschen Differenzen als ein Verfahren bekannt, das eine optimale Bestimmung einer Diagnosetestmenge erlaubt, die sich aus einzelnen Testpaaren für die Fehlertypen .,ständig null" bzw. ,,ständig 1" aller Schaltvariablen zusammensetzt. Es wird erläutert, wie sich diese Methode auf Schaltwerke durch eine Einbeziehung der Flipflops erweitern läßt, wobei durch die Zeitabhängigkeiten statt einzelner Tests Testfolgen entstehen. Durch Zusammenfügung dieser Testfolgen entsteht ein Testexperiment, das eine Fehlererkennung des Schaltwerks ermöglicht. Auf ein Beispiel und weitere Probleme wird eingegangen.

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Zur Fehlerdiagnose von logischen Schaltwerken mit Hilfe der Booleschen Differenzen / Fault detection in sequential circuits by using Boolean differences