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In dem Beitrag wird der Zusammenhang von Berufserfolg und Panelmortalität in methodisch innovativer Weise untersucht. Überprüft wird, ob ein so genannter Erfolgbias vorliegt, der problematisch wäre, weil in Absolventen- und Berufsverlaufsstudien häufig der Berufserfolg die eigentlich interessierende Variable darstellt. Im Gegensatz zu bisherigen Studien wird der Berufserfolg als ein dynamisches Konzept operationalisiert und auf den gesamten beobachteten Lebenslauf bezogen. Mit Hilfe des Optimal Matchings im Rahmen der Sequenzmusteranalyse sowie der Clusteranalyse werden Typen von Berufsverläufen gebildet, die sich unter anderem hinsichtlich des Erfolgs oder Misserfolgs unterscheiden. Im zweiten Schritt wird unter Verwendung von modifizierten log-linearen Pfadmodellen gezeigt, dass ein durch Panelmortalität verursachter Erfolgsbias in den untersuchten Daten nicht festgestellt werden konnte.

zeitschrift für soziologie

Bleiben die Erfolgreichen übrig? / Do Successful Persons Remain in the Sample?: Die Kombination von Sequenzmusteranalyse und log-linearen Pfadmodellen bei der Analyse des Zusammenhangs von Berufserfolg und Panelmortalität / A Combination of Sequence Analysis and Log-Linear Path Models to Analyze the Influence of Occupational Success on Panel Attrition