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A phenomenological approach was used to obtain critical information about the structure and electrical properties of ultra thin Ba0.05Sr0.95TiO3 (BSTO) layers over Nb electrodes. The method allows, in a simple way, to study and to optimize the growth of the barrier in order to improve the performance and application of Josephson junctions. A very good control of the layer thickness with a low roughness was achieved during the deposition process. The BSTO layers present an energy barrier of 0.6 eV and an attenuation length of 0.4 nm, indicating its good insulating properties for the development of Josephson junctions with improved performance.Fil: Sirena, Martin. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Area de Investigación y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia de Física (Centro Atómico Bariloche); Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Area de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Universidad Nacional de Cuyo; ArgentinaFil: Aviles Felix, Luis Steven. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Area de Investigación y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia de Física (Centro Atómico Bariloche); Argentina. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Area de Energía Nuclear. Instituto Balseiro; Argentina. Universidad Nacional de Cuyo; ArgentinaFil: Carvacho Vera, G. A. . Universidad de Concepción; ChileFil: Navarro Fernández, Henry Luciano. Universidad de Concepción; ChileFil: Steren, Laura Beatriz. Comisión Nacional de Energía Atómica. Gerencia del Area de Investigaciones y Aplicaciones No Nucleares. Gerencia de Física (Centro Atómico Constituyentes); Argentina. Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas; ArgentinaFil: Bernard, R. . Universite Paris Sud; Francia. Centre National de la Recherche Scientifique; FranciaFil: Briático, J. . Universite Paris Sud; Francia. Centre National de la Recherche Scientifique; FranciaFil: Bergeal, N. . Centre National de la Recherche Scientifique; FranciaFil: Lesueur, J. . Centre National de la Recherche Scientifique; FranciaFil: Faini, G.. Centre National de la Recherche Scientifique; Franci

Structural and transport characterization of ultra thin Ba0.05Sr0.95TiO3 layers grown over Nb electrodes for the development of Josephson junctions