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Les materiaux dielectriques deposes en couches minces et utilises pour la realisation de filtres interferentiels performants presentent des pertes par diffusion et par absorption tres faibles. Ils permettent d'ailleurs de realiser des guides d'onde plans dont les pertes totales peuvent etre inferieures a 1 dB/cm. Malgre ces faibles pertes, l'indice de refraction de ces materiaux peut etre modifie sous l'effet de la lumiere [1]. Ces modifications peuvent etre mesurees dans les couches minces presentant des modes guides. On beneficie effectivement a la fois de resonances marquees des ondes optiques et de grandes longueurs d'interaction lumiere-matiere. Ainsi, a partir d'un faisceau de puissance moyenne moderee, on peut confiner une tres forte intensite lumineuse dans l'epaisseur de la couche mince du materiau etudie.

Mesures de propriétés non linéaires thermiques de couches minces diélectriques