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Nous décrivons un appareil permettant d'évaporer sous ultra-vide (5 × 10—10 Torr) un matériau sous forme de couche mince et de faire des mesures optiques dans l'ultraviolet jusqu'à 1 200 Å. Les couches minces sont étudiées dans l'enceinte où elles ont été réalisées. Nous pouvons mesurer la transmission du rayonnement incident ou sa réflexion suivant deux angles d'incidence (20 degrés et 60 degrés) et en déduire les constantes optiques (n, indice de réfraction ; k, indice d'extinction) du matériau étudié [1]

Appareillage permettant la détermination dans l'ultraviolet lointain des constantes optiques de couches évaporées sous ultra-vide