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Les techniques de diffraction de rayons X et de neutrons, reposant sur la periodicite des reseaux cristallins, et la resonance magnetique nucleaire, qui apporte des informations sur la structure locale independamment de l’existence d’un ordre atomique a longue distance, sont des outils intrinsequement complementaires pour la cristallographie. Nous illustrerons ici comment la combinaison de ces techniques permet d’etendre la cristallographie a des systemes partiellement desordonnes. Dans ce contexte, la difference des echelles spatiales sondees par diffraction et RMN est un fantastique atout, en particulier lorsque ces techniques sont combinees avec la modelisation moleculaire.

Complémentarité de la RMN, la modélisation et la diffraction pour une cristallographie des systèmes désordonnés