English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Zendy Plus

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Zendy Tools

Zendy Open

Jusqu'à présent, seule la partie EXAFS (Extended x-ray absorption fine structure) du spectre d'absorption X i.e. celle comprise entre 40.eV et 1000.eV après seuil était simulée. L'avènement de codes de calculs performants tenant compte des processus de diffusion multiple du photoelectron nous permet désormais une simulation fiable du seuil d'absorption (XANES : X-ray absorption near edge structure). Dans le domaine des agrégats métalliques nanométriques supportés, nous comparons les résultats obtenus avec deux codes de calculs FEFF6 écrit par J. RHER et CONTINUUM écrit par NATOLI et montrons la complémentarité existant entre la spectroscopie d'absorption X et la diffraction aux grands angles (WAXS : Wide Angle X-ray Scattering)

Multiple Scattering Calculation of Absorption Spectrum and Diffraction Calculation: Application to Nanometer Scale Copper Metallic Particle