English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Zendy Pro

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Presents AI Discovery search usage as a premium feature

AI Discovery

Presents AI Discovery explain and summary usage as a premium feature

Content Analysis

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

1500 Top-up

3000 Top-up

Zendy Basic

2500 Top-up

Zendy Unlimited

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Dans cette étude, nous avons déterminé le tenseur complet des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X, selon la méthode des sin 2ψ, sur une couche de 1 000 Å de tungstène déposé sur un monocristal de silicium. Les contraintes sont de traction et d'une grande intensité (1,5 GPa). Elles sont presque isotropes dan le plan de la couche. Les cisaillements sont faibles, mais non négligeables. Après bombardement ionique avec un faisceau de Xe++ de 320 keV, les contraintes sont devenues de compression de l'ordre de -1,3 GPa. Ces résultats démontrent la faisabilité de la détermination des contraintes par la méthode des sin 2ψ dans des couches aussi minces que 1 000 Å et ouvrent des perspectives intéressantes de recherche

Détermination des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X dans une couche mince de 1 000 Å de tungstène