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Avec l’augmentation du nombre de systemes electroniques, les dysfonctionnements causes par des problemes de compatibilite electromagnetique (CEM) sont de plus en plus presents. La formation des futurs ingenieurs dans ce domaine est donc tres importante. Cependant, l’enseignement de la CEM n’est pas une tâche facile du fait qu’il faut faire intervenir des notions de rayonnement electromagnetique, de propagation d’onde electromagnetique, de couplage electromagnetique… Un travail important doit donc etre realise afin de mettre en place des bancs de mesure pedagogiques permettant d’illustrer les phenomenes rencontres. Dans le domaine de la compatibilite electromagnetique, il existe un banc de mesure nomme « scanner champ proche » qui permet de realiser des cartographies des rayonnements electromagnetiques en zone de champ proche d’un composant ou d’un circuit electronique. Ce papier presente la conception d’une « Mallette Scan Champ Proche » transportable et autonome permettant la realisation rapide de cartographies de champ electromagnetique en zone de champ proche. Une video de demonstration est proposee en partie III.

Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique