Гальваномагнитные свойства тонких пленок Bi-=SUB=-85-=/SUB=-Sb-=SUB=-15-=/SUB=- на различных подложках
Author(s) -
В. А. Комаров,
A. V. Suslov,
M. V. Suslov
Publication year - 2017
Publication title -
физика и техника полупроводников
Language(s) - Russian
Resource type - Journals
eISSN - 1726-7315
pISSN - 0015-3222
DOI - 10.21883/ftp.2017.06.44546.05
Subject(s) - file transfer protocol , antimony , materials science , environmental science , computer science , operating system , metallurgy , the internet
Представлены результаты исследования гальваномагнитных свойств тонких блочных пленок Bi 85 Sb 15 на подложках с различным коэффициентом температурного расширения. Выявлено большое влияние различия температурного расширения материала пленки и подложки на гальваномагнитные свойства пленок. Анализ свойств пленок в рамках двухзонной модели показал, что различие свойств пленок на различных подложках связано с изменением концентрации и подвижности носителей заряда. Показано, что для исследованного состава пленок уменьшение коэффициента температурного расширения материала подложки приводит к уменьшению концентрации носителей заряда, что указывает на значительное отличие в изменении зонной структуры пленок по сравнению с изменениями, происходящими при увеличении концентрации сурьмы. DOI: 10.21883/FTP.2017.06.44546.05
Accelerating Research
Robert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom
Address
John Eccles HouseRobert Robinson Avenue,
Oxford Science Park, Oxford
OX4 4GP, United Kingdom