English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Global: Zendy Plus annual

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Global: Zendy Tools annual

Global: Zendy Free Plan

Global: Zendy Tools monthly

Global: Zendy Plus monthly

Определенный интерес в рамках задачи распространения релятивистских электронных пучков (РЭП) в плотных газоплазменных средах представляет исследование устойчивой проводки пучков по предварительно созданным омическим плазменным каналам [1–11]. В работе [5] была предложена модель для расчета трекинг–силы, действующей на РЭП, испытывающий поперечные смещения и распространяющийся внутри однородного по радиусу омического плазменного канала низкой проводимости. В этом случае основную роль играют электростатические силы взаимодействия отклоненного в поперечном направлении пучка и генерированным на границе плазменного канала дипольным возмущенным зарядом. Однако в [5] не был проведен численный анализ зависимости трекинг–силы от скорости нарастания амплитуды шлангового отклонения пучка и от временной частоты изменения указанной амплитуды. Этим вопросам и посвящена настоящая работа.

Расчет трекинг--силы при развитии резистивной шланговой неустойчивости релятивистского электронного пучка