English (United Kingdom)

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/featured_content/oa?rat=en

https://curated-unify.zendy.io/wp-json/zendy-region/v1/highlighted_journal/

Global: Zendy Plus annual

Presents the access of premium content as premium feature

Premium Content

Presents the keyphrase highlighting as premium feature

Keyphrase Highlighting

Presents the summarisation as premium feature

Summarisation

Insights

Presents the pdf analysis as premium feature

PDF Analysis

Presents the zaia usage as premium feature

ZAIA

Global: Zendy Tools annual

Global: Zendy Free Plan

Global: Zendy Tools monthly

Global: Zendy Plus monthly

Bilim ve teknoloji alanlarindaki hizli gelismeler, goruntuleme ve kimyasal analiz icin cok hassas ve kesin sonuclara ulasan elektron mikroskoplarinin kullanim gereksinimi de beraberinde getirmektedir. Ozellikle ulkemiz icin yeni bir teknoloji olan odaklanmis iyon demeti (FIB) farkli bilim dallari icin bolgesel icyapi analizi, goruntuleme, asindirma, depolama, mikroisleme, prototipleme gibi farkli islemleri eszamanli yurutebilen yaygin ve pratik bir yontemdir. Dis dokularinin sert ve kirilgan olmasindan kaynakli olarak bu malzemelerin ultramikrotomi veya diger metotlarla kesitlenmesi ve bunu takiben icyapilarinin detayli analizi, mekanik kesici aletlerin dayanimi yetersiz kaldigindan problem yaratmaktadir. Bu tur malzemelerin mikroyapilarinin iki ve uc boyutta ozellikle bolgesel ve istenilen geometride incelenmesi icin FIB-SEM cift demet platformlarin kullanilmasi en uygun cozumdur. Cift demet platformlarinda bulunan FEG-SEM kolonlari iyon prosesleriyle eszamanli olarak yuz binlerce kez buyutmelere ve 1-2 nm cozunurluge varabilen goruntuleme ve elementer analiz imkâni saglamaktadir.  Bu calismada, FIB-SEM platformlarinin kullanilmasi sayesinde dentin ve mine tabakalari gibi farkli ozelliklerdeki dis dokularinin icyapilarindaki mikro-/nano-yapisal farkliliklarin yuksek hassasiyette tespiti saglanmistir. Farkli morfoloji ve kimyasal bilesene sahip dis dokularinin icyapilarinin iyon-kesitlemesi ile incelenmesi Turkiye’deki dis hekimligi calismalarinda FIB-SEM platformlarinin aktif kullanilmasi icin bir baslangic calismasidir ve ozgun deger tasimaktadir.

Odaklanış İyon Demeti (FIB) Kesitlemesi ile Diş Dokularına ait İçyapıların Mikro/Nano-Analizi