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In diesem Beitrag wird ein Zeitbereichsmessverfahren mit doppelt-exponenziellen Pulsen vorgestellt, das zur Bestimmung der Schutzwirkung leitfähiger Schirme, die zum Schutz von Elektronik gegen pulsartige elektromagnetische Felder eingesetzt werden, genutzt werden kann. Mit den verwendeten Pulsen wird die Störfestigkeit eines im Betrieb befindlichen Testobjekts im geschirmten und ungeschirmten Zustand bestimmt. Die Schutzwirkung des Schirms ergibt sich aus den verschiedenen Feldstärken, bei denen bestimmte Ausfallerscheinungen auftreten. Das Messverfahren basiert auf Wahrscheinlichkeiten der Störung bzw. der Zerstörung des Testobjekts. Testreihen mit Mikrocontrollern und Mikroprozessorboards zeigen entgegen den Erwartungen eine überraschende Übereinstimmung der Testergebnisse.

tm - technisches messen

Neues Messverfahren zur Bestimmung der Schirmwirkung mittels ultrabreitbandiger elektromagnetischer Feldimpulse (New Measuring Method for the Determination of the Shielding Properties by means of Ultra Wideband Electromagnetic Field Pulses)