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Streulicht-Messmethoden lassen sich auf Basis von Simulationen untersuchen und weiterentwickeln. Im Fall nanostrukturierter Oberflächen sind allerdings neue rigorose Verfahren und Simulationsalgorithmen für die Streulichtberechnung erforderlich. Existierende Ansätze erweisen sich aufgrund des hohen Rechenaufwands als ungeeignet. Z. B. führt die Diskrete-Dipol-Approximation zu Systemen aus vielen Millionen gekoppelter Gleichungen, welche nur mit erheblichem Aufwand lösbar sind. Dieser Beitrag stellt ein Verfahren vor, das die Gleichungen entkoppelt und die entstehenden Teilsysteme parallel berechnet.

tm - technisches messen

Parallelisierung rigoroser Streulicht-Simulationsalgorithmen für nanostrukturierte Oberflächen  Parallelization of Rigorous Light Scattering Simulation Algorithms for Nanostructured Surfaces